政府調達令和7年3月26日

KrFステッパ一式の調達に関する公告(第24号)

掲載日
令和7年3月26日
号種
政府調達
原文ページ
p.51
出典:官報発行サイト(内閣府)の掲載情報をもとに整理しています。重要な確認は公式原文を基準にしてください。
原文確認推奨
日付や期限の種類は公告内で複数並ぶ場合があります。抽出された基本情報は原文と照合して確認してください。
公告概要

令和7年3月26日発行の官報(政府調達 第54号)に掲載された政府調達・入札公告です。東北大学による「KrFステッパ 1 Set」の政府調達公告。掲載ページ: p.51。

抽出された基本情報
発行機関東北大学
調達機関東北大学出典: p.51 / 抽出済みメタデータ · 原文確認対象
品目KrFステッパ 1 Set出典: p.51 / 抽出済みメタデータ · 原文確認対象
連絡先電話 022-217-4869出典: p.51 / 現在の公告本文 / 問い合わせ先 · 境界確認済み

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KrFステッパ一式の調達に関する公告(第24号)

令和7年3月26日|p.51

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公式原文あり本文テキスト画像照合可誤りを報告
(日本医療法第4号(
(1) ) ) 19日 日本
(3)調達方法購入等
(4)導入予定時期
令和7年9月以降
(5)調達に必要とされる基本的な要求要件
Aレチクル上のパターンを縮小投影露光法
によりウェハ上に微細パターンとして露光
できること。
Bウェハ搬送系を有すること。
Cウェハをプリアライメントする機構を有
すること。
Dウェハ上の既存パターンとの位置合わせ
が精密にできること。
Eウェハに対してオートフォーカスできる
こと。
F20m角~直径8インチを含む様々な大き
さのウェハに対して露光できること。ただ
し直径4インチより小さいウェハはこちら
で支給するトレイを用いて露光してもよ
い。
G反りのあるウェハに対して露光できるこ
と。
H透明なウェハに対して露光できること。
1高スループットでウェハに露光できるこ
と。
Jレチクル搬送系を有すること。
K複数枚のレチクルを収納することがで
き、それらの中から露光に必要なレチクル
を自動でセットできること。
L投影縮小率は1/5であること。
M本装置(KrFステッパ一式)用レチ
クルと、本学既存1線ステッパ(キヤノン
(株)製FPA-3030i5+)用レチクルは、
それぞれの装置において相互に使用できる
とこ
2資料及びコメントの提供方法上記1(2)の物
品に関する一般的な参考資料及び同(5)の要求要
件等に関するコメント並びに提供可能なライプ
ラリーに関する資料等の提供を招請する。
(1)資料等の提供期限令和7年4月28日17時
00分(郵送の場合は必着のこと。)
(2)提供先980-8577仙台市青葉区片平
2-1-1東北大学財務部調達課調達第一
係長大友將充電話022-217-4869
3説明書の交付本公表に基づき応募する供給
者に対して導入説明書を交付する。
(1)交付期間令和7年3月26日から令和7年
4月28日まで。
(2)交付場所上記2(2)に同じ。
4説明会の開催本公表に基づく導入説明会を
開催する。
(1)開催日時令和7年4月9日10時00分
(2)開催場所オンライン開催とする。(詳細
は、導入説明書による。)
5その他この導入計画の詳細は導入説明書に
よる。なお、本公表内容は予定であり、変更す
ることがあり得る。
6 Summary
(1)Classification of the services to be re-
quired:24
(2)Nature and quantity of the services to be
required : KrF Stepper 1 Set
(3) Type of the procurement : purchase
(4) Basic requirements of the procurement:
A The system must be able to expose fine
patterns on a reticle to a wafer by reduc-
tion projection exposure method.
B The system should have a wafer trans-
fer system
C The system should have a wafer pre-
alignment system.
D The system must be able to align pat-
terns to be exposed precisely with exist-
ing patterns on a wafer
E The system must be able to focus on a
wafer automatically.
F The system must be able to expose pat-
terns on a wafer of various sizes includ-
ing the range from 20mm square to 8-inch
diameter. A tray provided by the Univer-
sity can be used for the wafer smaller
than 4-inch
G The system must be able to expose pat-
terns on the wafer with warpage.
H The system must be able to expose pat-
terns on transparent wafers
I The system must be able to expose pat-
terns with high-throughput.
J The system should have a reticle trans-
fer system
K The system must be able to stock re-
ticles and to set the selected reticle auto-
matically
L The projection reduction ratio must be
1/5
M The reticles for this system and the
existing i-line stepper (FPA-3030i5+
Canon inc.) must be mutually compatible
and interchangeable between the two sys-
tems.
(5) Time limit for the submission of the re-
quested material : 17:00 28 April, 2025
(6)Contact point for the notice : Masamitsu
Otomo, Procurement Services Office, Fi-
nance Department, Tohoku University,
2-1-1 Katahira Aoba-ku Sendai-shi
980—8577 Japan, TEL022-217-4869
読み込み中...
KrFステッパ一式の調達に関する公告(第24号) - 第51頁
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