招請
資料提供招請に関する公表
次のとおり物品の導入を予定していますので,
当該導入に関して資料等の提供を招請します。
令和7年10月6日
国立大学法人徳島大学長河村保彦
◎調達機関番号 36
○第3号
1調達内容
(1)品目分類番号24
(2)導入計画物品及び数量原子分解能分析電
子顕微鏡一式
(3)調達方法購入等
(4)導入予定時期令9年3月31日
(5)調達に必要とされる基本的な要求要件
A TEM非線形情報限界は0.14nm以下(加
速電圧200kV)、TEM格子分解能は0.14
nm以下(加速電圧200kV)、STEM分解能
は0.082nm以下(加速電圧200kV)である
こと。
B電子銃は冷陰極電界放出形であり、輝度
8×108A/cm2・sr以上(加速電圧200
kV)、エネルギー半値幅0.31eV以下(加
速電圧200kV)であること。
C照射系の球面収差補正機能を有するこ
と。
DSTEM観察と同時に、二次電子像の取
得も可能なように特別に設計された反射電
子像観察装置を用いて、二次電子像の観察
ができること。
E試料ホルダーとして高感度分析2軸傾斜
ホルダー、冷却2軸傾斜雰囲気遮断ホル
ダー、各1本を含め、軸径15mmΦ以上の
ホルダーが使用できること。またゴニオカ
バーを有すること。
F集束レンズ上部に静電偏光板を装備し、
観察条件の変更無しで、電子線照射量をコ
ントロールする機能を有すること。
Gデータとして使用しないスキャン領域の
み高速にビームをブランキングし、実際に
データとして使用するスキャン領域のみに
電子線が照射できること。
H連続傾斜像・連続傾斜走査像の取得及び
三次元再構成ができること。
TEM像・電子回折図形、STEM像のほ
か、画像記録部、特性X線分光部、電子エ
ネルギー損失分光器部の操作を統合的に扱
えるソフトウェアを備えること。
J環境対策として機器が安定可動するよう
なアクティブ除振台、磁場キャンセラーを
備えること。
Kシリコンドリフトディテクタータイプの
特性X線分光器を2本以上備え、有効面積
は300mm2以上であり、検出立体角は2.2
Sr以上を有すること。
L電子エネルギー損失分光器を備え、エネ
ルギー範囲は1024eV(加速電圧200kV)
以上、スペクトル取得速度は最速1ミリ秒
(フル解像度時)での取得設定が可能であ
ること。
M前処理機器として、イオンクリーナー、
イオンスライサー、試料予備排気装置を備
えること。
2資料及びコメントの提供方法上記1(2)の物
品に関する一般的な参考資料及び同(5)の要求要
件等に関するコメント並びに提供可能な製品や
サービスに関する資料等の提供を招請する。
(1)資料等の提供期限令和7年11月5日17時
00分(郵送の場合は必着のこと。)
(2)提供先770-8503徳島市南常三島町
2-1国立大学法人徳島大学経理部常三島
会計課調達係長新居大樹電話088-
656-8802
3説明書の交付本公表に基づき応募する供給
者に対して導入説明書を交付する。
(1)交付期間令和7年10月6日から令和7年
11月5日まで。
(2)交付場所上記2(2)に同じ。
4説明会の開催本公表に基づく導入説明会を
開催する。
(1)開催日時令和7年10月10日11時00分
(2)開催場所徳島大学理工学部小会議室
5その他この導入計画の詳細は導入説明書に
よる。なお、本公表内容は予定であり、変更す
ることがあり得る。
(当時間募集集(第18号(
報告
911日1日○日本月10日まで
6 Summary
(1)Classification of the products to be pro-
cured:24
(2)Nature and quantity of the products to be
purchased: Atomic-Resolution Analytical
Transmission Electron Microscope 1 set
(3) Type of the procurement : Purchase
(4) requirement:
A The electron microscope shall achieve
a non-linear information limit of 0.14 nm
or less and a lattice resolution of 0.14 nm
or better in TEM mode, and a spatial re-
solution of 0.082 nm or better in STEM
mode, all at an accelerating voltage of
200kV.
B The of a cold
field emission type, with a brightness of
8 × 108 A/cm2 . sr or greater an
accelerating voltage of200kV, and an
energy resolution (FWHM) of 0.31 eV or
better at 200kV.
C The electron microscope shall be
equipped with a spherical aberration cor-
rection function for the illumination sys-
tem.
D The electron microscope shall be ca-
pable of simultaneous STEM imaging
and secondary electron imaging using a
backscattered electron detector system
specifically designed to enable secondary
electron image acquisition.
E The electron microscope shall include
one high-sensitivity analytical double-tilt
holder and one cooling double-tilt holder
with atmospheric isolation and shall be
compatible with specimen holders having
a shaft diameter of 15 mm or greater. A
goniometer cover shall also be included.
F The electron microscope shall be
equipped with an electrostatic beam blan-
ker located above the condenser lens, en-
abling control of the electron beam dose
without altering the observation condi-
tions.
G The electron microscope shall be ca-
pable of high-speed beam blanking in
scan regions not intended for data acqui-
sition, thereby ensuring that electron
beam irradiation occurs only in regions
designated for actual data collection.
H The electron microscope shall be ca-
pable of acquiring a series of continuous-
ly tilted TEM and STEM images, and of
performing three-dimensional re-
construction based on the acquired data.
I The electron microscope shall be
equipped with software capable of in-
tegrated operation and control of TEM
imaging, electron diffraction pattern ac-
quisition, STEM imaging, image record-
ing, energy-dispersive X-ray spectros-
copy (EDS), and electron energy loss
spectroscopy (EELS).
J The environmental control system
shall include an active vibration isolation
system and a magnetic field cancellation
device to ensure stable of the
electron microscope.
K The characteristic X-ray spectrometer
shall be equipped with two or more sili-
con drift detectors (SDDs), each having
an effective area of at least 300mm2, and
the total solid detection angle shall be 2.2
Sr or greater.
L The electron energy loss spectrometer
shall support an energy range of 1024 eV
or greater at an accelerating voltage of
200kV and shall be capable of acquiring
spectra at a maximum speed of 1 msec at
full resolution.
M In addition to the main electron micro-
scope system, the sample preparation
equipment shall include an ion cleaner, an
ion slicer, and a pre-evacuation device for
specimen holders
(5) Time limit for the submission of the re-
quested material: 17:00 5 November,
2025
(6)Contact point for the notice: Nii Hiroki
Procurement Assistant Manager, Josan-
jima Accounting Division, Accounting De-
partment, National University Corporation,
Tokushima University, 2-1 Minamijo-
sanjima-cho Tokushima-shi 770—8506 Ja-
pan,TEL088-656-8802