その他令和7年7月24日

試験機器の設定及び測定条件に関する規定

掲載日

令和7年7月24日

号種

号外

原文ページ

p.94

出典：官報発行サイト（内閣府）の掲載情報をもとに整理しています。重要な確認は公式原文を基準にしてください。

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令和7年7月24日|p.94

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769(9191 日本人本人本人は今

エ試験機器を運用中チャネル監視状態とし,試験周波数に固定して送信する場合は、あ

らかじめ試験用治具を用いて試験機器を試験可能な状態に設定する。この場合において

試験機器の状態は、実際の無線設備の運用状態とレーダーバルスの検出確率が同じでな

ければならない。

オ2(2)アの固定パルス1及び固定パルス2については、いずれか一方の試験を省略する

ことができる。ただし、試験機器のレーダー波検出サンプリング間隔が0.5μsを超える

場合は、固定パルス1の試験を行わなければならない。

力2(2)イの可変パルス5及び可変パルス6については、いずれか一方の試験を省略する

ことができる。

キ412)キヴ)の検出回数の合計及び試験回数の合計は、固定パルス1又は固定パルス2、

固定パルス3、可変パルス4及び可変パルス5又は可変パルス6の試験回数の合計とす

る。

7)2/51アにおいて、時間軌波形を直接表示する機能を有するスペクトル分析器を用いる場

合は、解析帯域幅を1MHz以上として測定することができる。

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