政府調達令和7年11月17日

透過型電子顕微鏡の導入に関する資料提供の招請

政府調達p.42

出典:官報発行サイト(内閣府)の掲載情報をもとに整理しています。重要な確認は公式原文を基準にしてください。

原文確認推奨日付や期限の種類は公告内で複数並ぶ場合があります。抽出された基本情報は原文と照合して確認してください。
公告概要

令和7年11月17日発行の官報(政府調達 第213号)に掲載された政府調達・入札公告です。国立大学法人東京大学による「透過型電子顕微鏡」の政府調達公告。掲載ページ: p.42。

発行機関文部科学省
調達機関国立大学法人東京大学出典: p.42 / 抽出済みメタデータ · 原文確認対象
品目透過型電子顕微鏡出典: p.42 / 抽出済みメタデータ · 原文確認対象
政府調達分類コード24出典: p.42 / 現在の公告本文 / 品目分類番号 · 境界確認済み
公共機関情報
国立大学法人東京大学
官報公開記録 410
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公告種別
資料提供招請
品目
透過型電子顕微鏡
期限
2025/12/18

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透過型電子顕微鏡の導入に関する資料提供の招請

令和7年11月17日|p.42

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招請
資料提供招請に関する公表
次のとおり物品の導入を予定していますので、
当該導入に関して資料等の提供を招請します。
令和7年11月17日
国立大学法人東京大学総長藤井輝夫
◎調達機関番号415◎所在地番号13
○第7号
1調達内容
(1)品目分類番号24
(2)導入計画物品及び数量透過型電子顕微鏡
式一一
(3)調達方法借入
(4)導入予定時期令和8年度11月以降
(5)調達に必要とされる基本的な要求要件
A TEM/STEM観察および電子回折デー
タの観察・記録が可能であること。
Bショットキー型電界放出電子銃
(Schottky FEG)を搭載すること。
C多段レンズ構成(照射/対物/結像)に
より高分解能観察が可能なこと。
D自動/手動切替可能な試料交換ができ
オートエアロックと二段予備排気方式を備
えること。
E試料ステージは6軸制御と試料傾斜・回
転支援機構を備えること。
FTEM用ベリリウム二軸傾斜ホルダを付
属すること。
G像観察室、小蛍光板/大蛍光板、ボトム
マウントCMOSカメラを備えること
H除振台・磁場キャンセラー・冷却水循環
装置を含む環境/補機類を備えること,
ITEM本体と連動可能なEDSを付属する
こと。
2資料及びコメントの提供方法上記1(2)の物
品に関する一般的な参考資料及び同(5)の要求要
件等に関するコメント並びに提供可能なライプ
ラリーに関する資料等の提供を招請する。
(1)資料等の提供期限令和7年12月18日17時
00分(郵送の場合は必着のこと。)
(2)提出先113-8656東京都文京区本郷
7-3-1東京大学工学系・情報理工学系
等財務課調達チーム清水克也電話03-
5841-0354
3説明書の交付本公表に基づき応募する供給
者に対して導入説明書を交付する。
(1)交付期間令和7年11月17日から令和7年
12月18日まで,
(2)交付場所上記2(2)に同じ。
4その他この導入計画の詳細は導入説明書に
よる。なお、本公表内容は予定であり、変更す
ることがあり得る。
5 Summary
(1)Classification of the products to be pro-
cured:24
(2)Nature and quantity of the products to be
rent : Transmission Electron Microscope 1
Set
(3) Type of the procurement : rent
(4) Basic rement:
A The system shall enable TEM and
STEM imaging as well as electron di-
ffraction data acquisition and recording
B The microscope shall be equipped with
a Schottky field emission gun (Schottky
FEG)
C A multi-stage lens configuration
(illumination/objective/imaging)shall
provide high-resolution observation capa
bility
D The specimen exchange shall allow se-
lection between automatic and manual
operation, and shall incorporate an auto
airlock mechanism with a two-stage pre
evacuation system.
E The specimen stage shall provide 6-
axis control and shall include tilt/rota-
tion assistance.
F A beryllium dual-axis TEM specimen
holder shall be supplied.
G The system shall include an observa-
tion chamber, small and large fluorescent
screens, and a bottom-mounted CMOS
camera
H The system shall include environ
mental and auxiliary equipment such as a
vibration isolation table, magnetic field
canceller, and cooling water circulation
unit.
I An energy-dispersive X-ray spect
rometer (EDS) compatible with and in-
tegrated with the TEM system shall be
provided
(5) Time limit for the submission of the re
quested material: 17:00 18 December,
2025
(6)Contact point for the notice: SHIMIZU
Katsuya, Finance Group, Department for
Graduate School of Engineering, The Uni
versity of Tokyo, 7—3—1 Hongo Bunkyo
ku Tokyo113-8656Japan,TEL03-
5841-0354
読み込み中...
透過型電子顕微鏡の導入に関する資料提供の招請 - 第42頁
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