その他令和7年7月24日

副次発射の測定手順および試験機器の設定条件

掲載日
令和7年7月24日
号種
号外
原文ページ
p.29
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副次発射の測定手順および試験機器の設定条件

令和7年7月24日|p.29

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(当691 月 日) 日本人現 日本人馬 67
十二副次的に発する電波等の限度
1測定系統図
擬似負荷
スペクトル
ターユータ
(滅衰器)
分析器
試験機器
2測定器の条件等
11)測定対象が低レベルであるため、擬似負荷(減衰器)の減衰量はなるべく低い値とする。
(2)副次発射探索時のスペクトル分析器は以下のように設定する。
掃引周波数幅副次発射の探索は、なるべく低い周波数から搬送波周波数の
3倍以上までの周波数とする。
分解能帯域幅1GHz未満では100kHz,1GHz以上では1MHz
ビデオ帯域幅分解能帯域幅と同程度
掃引時間測定精度が保証される最小時間
Y軸スケール10dB/Div
データ点数400点以上
掃引モード単掃引
検波モードポジティブピーク
(3)副次発射測定時のスペクトル分析器は以下のように設定する。
中心周波数探索された副次発射周波数
掃引周波数幅0Hz
分解能帯域幅30MHz未満では10kHz、30MHz以上1GHz未満では100
kHz、1GHz以上では1MHz
ビデオ帯域幅分解能帯域幅と同程度
掃引時間
測定精度が保証される最小時間
Y軸スケール10dB/Div
400点以上
単掃弓
サンプル
3試験機器の状態
(1)試験周波数に設定する。
(2)受信状態とする。
4測定操作手順
(1)スペクトル分析器の設定を2(2)とし、なるべく低い周波数から搬送波の3倍以上が測定
できる周波数まで掃引して副次発射の振幅の最大値を探索する。
(2)探索した結果が規格値以下の場合、探索値を測定値とする。
(3)探索した結果が規格値を超えた場合は,スペクトル分析器の中心周波数の設定精度を高
めるため、周波数掃引幅を100MHz、10MHz及び1MHzのように分解能帯域幅の10倍程
度まで順次狭くして副次発射の周波数を求める。次に、スペクトル分析器の設定を2(3)と
し、平均化処理を行って平均電力を測定する。
読み込み中...
副次発射の測定手順および試験機器の設定条件 - 第29頁
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