国立大学法人北陸先端科学技術大学院大学による集束イオンビーム・走査型電子顕微鏡複合装置の調達に関する公表
令和7年2月12日|p.46
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資料提供招請に関する公表
次のとおり物品の導入を予定していますので、
当該導入に関して資料等の提供を招請します。
令和7年2月12日
国立大学法人北陸先端科学技術大学院大学
理事河野広幸
◎調達機関番号415◎所在地番号17
○第4号
1調達内容
(1)品目分類番号24
(2)導入計画物品及び数量集束イオンビー
ム・走査型電子顕微鏡複合装置一式
(3)調達方法購入等
(4)導入予定時期令和7年度
(5)調達に必要とされる基本的な要求要件
集束イオンビームと走査型電子顕微鏡によ
る高精度での試料作製・解析が可能な先進的
な複合装置であること。その他詳細は導入説
明書で示す。
2資料及びコメントの提供方法上記1(2)の物
品に関する一般的な参考資料及び同(5)の要求要
件等に関するコメント並びに提供可能なライプ
ラリーに関する資料等の提供を招請する。
(1)資料等の提供期限令和7年3月17日17時
00分(郵送の場合は必着のこと。)
(2)提供先923-1292石川県能美市旭台
1-1北陸先端科学技術大学院大学総務部
会計課調達係長中西達也電話0761-
51-1104
3説明書の交付本公表に基づき応募する供給
者に対して導入説明書を交付する。
(1)交付期間令和7年2月12日から令和7年
3月17日まで。
(2)交付場所上記2(2)に同じ。
4説明会の開催本公表に基づく導入説明会を
開催する。
(1)開催日時令和7年2月14日10時00分
(2)開催場所北陸先端科学技術大学院大学本
部棟2階中会議室(又はオンライン開催)(オ
ンライン開催の詳細は導入説明書交付時に別
途案内する。)
5その他この導入計画の詳細は導入説明書に
よる。なお、本公表内容は予定であり、変更す
ることがあり得る。
6 Summary
(1)Classification of the products to be pro-
cured:24
(2)Nature and quantity of the products to be
purchased: Focused Ion Beam-Scanning
Electron Microscope (FIB-SEM) system 1
Set
(3) Type of the procurement : Purchase
(4) Basic requirements of the procurement
It is an advanced composite system that en-
ables high-precision sample preparation
and analysis using focused ion beam and
scanning electron microscope techniques,
Further details are provided in the Intro-
duction Manual for Procurement.
(5) Time limit for the submission of the re-
quested material : 17:00 17 March, 2025
(6) Contact point for the notice: Tatsuya
Nakanishi, Procurement Section, Account
ing Department, Administrative Division.
Japan Advanced Institute of Science and
Technology, 1-1 Asahidai Nomi-Ishikawa
923-1292Japan,TEL0761-51-1104